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EM系列 是一款主要用于查找干扰源,判定干扰产生原因的高性价比近场探头。可用来检测器件表面的磁场方向以及强度;检测模块附近的磁场环境。为了降低干扰,寻找到真正的干扰源或者是其传播的途径是非常有必要的,通过近场探头测量可以很方便地实现定位功能。
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